一、核心原理

Kibron Wilhelmy吊片法測量表面張力，信號來源于氣液界面吸附分子作用力；發酵渾濁液含有菌體、多糖、蛋白、微粒。體系存在兩類干擾：①懸浮顆粒不改變表面張力，但可能附著探針，造成受力讀數漂移；②發酵基質本身含有表面活性物質；③菌體代謝持續產表面活性代謝物。

空白的核心目標：區分「培養基基質固有界面活性」與「微生物代謝生成的活性物質」，同時補償顆粒粘附、濁度帶來的探針測量干擾。禁止直接使用純水當作空白，基質組分差異會帶來系統性偏差。

二、三級對照完整設置方案（最優學術方案，適配發酵動力學監測）

1. 基礎空白：無菌基質空白（必設核心對照組）

配方、pH、滅菌條件、緩沖體系與發酵培養液完全一致，僅不接種微生物；同等溫度下同步培養、同步取樣。

作用：表征培養基內源表面活性、滅菌產生的活性產物、長時間孵育帶來的基質界面張力漂移。

用途：用于基線參照，區分培養基本身效應 vs 菌體代謝產生的表面活性物質。

2. 工藝匹配平行空白（推薦增設）

1）同步孵育處理：無菌空白與發酵樣品置于相同溫度、相同時長孵育，模擬發酵環境下培養基自身老化；

2）若樣品需要離心/過濾預處理，空白樣品執行完全相同預處理流程；

關鍵點：不要常溫新鮮配制培養基直接測，培養基長時間恒溫孵育會發生糖類焦化、蛋白變性，界面性質發生改變。

3. 儀器測量程序空白校正（測量層面質控）

1）每次探針清洗完成，先用超純水校準探針（72.0 mN/m，校驗探針潔凈度）；

2）測試順序遵循：無菌空白→發酵樣品→空白復測；通過復測判斷探針是否被菌體/多糖粘附污染；

3）出現讀數持續偏移，則執行探針乙醇沖洗+灼燒凈化。

三、兩條主流樣品處理路線以及對應的空白匹配策略

路線A：直接測定未澄清發酵渾濁液（原位真實體系）

樣品不離心、不過濾，保留全部菌體懸浮顆粒

??風險：菌體、碎屑容易粘附鉑探針，持續擾動張力讀數。

配套空白要求：

無菌空白培養基同樣不離心、不過濾；如果發酵液存在沉降，測試前標準化輕柔混勻；空白組同步混勻，保證懸浮顆粒帶來的探針粘附干擾在兩組均等。

審稿重點說明：懸浮菌體本身不具備表面活性，僅存在物理粘附干擾；依靠同等條件空白平行評估漂移。

路線B：離心/上清液檢測（追求消除顆粒物理干擾，論文最常用）

發酵液低速離心取上清，去除菌體與不溶性微粒后測量。